一文與您分享便攜式移動(dòng)XRF光譜儀的使用指南
2025-03-17
便攜式移動(dòng)XRF光譜儀是一種高效、準(zhǔn)確的元素分析儀器，具有便攜、快速、無(wú)損檢測(cè)等特點(diǎn)，能夠激發(fā)樣品中的原子，通過(guò)檢測(cè)原子內(nèi)部電子躍遷釋放的特征X射線，識(shí)別樣品中的元素成分。該儀器廣泛應(yīng)用于金屬材料檢測(cè)、環(huán)保監(jiān)測(cè)、建筑行業(yè)、考古文物保護(hù)及食品安全等多個(gè)領(lǐng)域，能夠迅速提供可靠的元素分...
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熔融制樣EDXRF射線熒光光譜儀測(cè)定碳化鎢及其廢料中的鎢
熔融制樣X(jué)射線熒光光譜儀Compass300測(cè)定碳化鎢及其廢料中的鎢碳化鎢被廣泛應(yīng)用于硬質(zhì)合金生產(chǎn)材料,其鎢的含量關(guān)系碳化鎢的性能及貨物結(jié)算,生產(chǎn)過(guò)程中因配比錯(cuò)誤、打磨等原因還會(huì)產(chǎn)生大量的含鎢廢料,從廢料中回收鎢能彌補(bǔ)鎢資源的不足,因此測(cè)定碳化鎢及其廢料中的鎢具有重要意義。目前碳化鎢中鎢含量的測(cè)定通常參照國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)采用辛可寧重量法,準(zhǔn)確度較高,但只適用于檢測(cè)三氧化鎢含量大于50%的樣品,且過(guò)程繁瑣,工作量大。我們根據(jù)碳化鎢在高溫下易氧化的特點(diǎn),將碳化鎢轉(zhuǎn)化為三氧化鎢,采用熔融制...
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能量色散X射線熒光光譜儀測(cè)定潤(rùn)滑油和添加劑中的磷、硫、鈣、鋅和鋇
能量色散X射線熒光光譜儀Compass-4294測(cè)定潤(rùn)滑油和添加劑中的磷、硫、鈣、鋅和鋇用x射線熒光光譜法Compass4294測(cè)定潤(rùn)滑油和添加劑中Ba,Ca,P,S,Zn含量,用數(shù)學(xué)法校正元素間相互影響,直接測(cè)定的適用范圍為0.005%～0.5%(S為0.002%～5.00%).元素濃度較高的添加劑經(jīng)適當(dāng)稀釋后也可測(cè)定.加入回收率為95%～109%,重復(fù)性達(dá)到ASTMD4927-93B法要求.使用Compass4294-XRF輕松實(shí)現(xiàn)對(duì)油品中硫元素的無(wú)損檢測(cè)便攜一體化設(shè)計(jì)滿...
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XRF熒光光譜儀基體效應(yīng)校正方式介紹
在XRF熒光光譜儀分析中,基體效應(yīng)往往是引起分析誤差的主要來(lái)源之一。基體效應(yīng)是元素間的吸收一增強(qiáng)效應(yīng)和物理一化學(xué)效應(yīng),通常,基體效應(yīng)是指被測(cè)樣品中元素間的吸收-增強(qiáng)效應(yīng)。為了保證分析結(jié)果的準(zhǔn)確性,必須對(duì)基體效應(yīng)進(jìn)行校正。目前對(duì)基體效應(yīng)的校正已發(fā)展為兩大分支,其一是通過(guò)實(shí)驗(yàn)的手段,稱之為實(shí)驗(yàn)校正法;其二是通過(guò)計(jì)算的方法,稱之為數(shù)學(xué)校正法。(一)實(shí)驗(yàn)校正法實(shí)驗(yàn)校正法,除前面所述的粉末稀釋法、薄樣法外,還有內(nèi)標(biāo)法、標(biāo)準(zhǔn)比較法、散射線內(nèi)標(biāo)法等。內(nèi)標(biāo)法是外加一個(gè)其特征x射線波長(zhǎng)與被測(cè)元...
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XRF熒光光譜儀礦石礦產(chǎn)土壤分析儀樣品前處理制備方法介紹??
XRF熒光光譜儀礦石礦產(chǎn)土壤分析儀EDX9000B樣品前處理制備方法介紹??X射線螢光光譜儀XRFSpectrometerX射線熒光光譜儀,分為波長(zhǎng)色散型和能量色散型兩類,前者在分辨率和穩(wěn)定性等方面優(yōu)于后者,使用廣泛；后者結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,休積小,便于攜帶,適用于野外地質(zhì)和生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)分析。波長(zhǎng)色散型又分為多道式和順序式兩種,多道式一般有28-30個(gè)波道,可同時(shí)進(jìn)行28-30個(gè)元素的分析,分析速度快,適合于固定元素或成批試樣的生產(chǎn)控制、地質(zhì)勘探等方面的分析；而順序式儀器具有較大的靈活性和...
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EDXRF便攜式礦石土壤分析儀對(duì)土壤分析檢測(cè)的應(yīng)用
便攜式礦石土壤分析儀Compass200能量色散熒光光譜XRF?通常認(rèn)可的重金屬分析方法有：紫外可見(jiàn)分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子熒光法（AFS）、電感耦合等離子體法（ICP）、X射線熒光光譜（XRF）、電感耦合等離子質(zhì)譜法（ICP-MS）等。X射線熒光光譜法是利用樣品對(duì)X射線的吸收隨樣品中的成分及其多少變化而變化來(lái)定性或定量測(cè)定樣品中成分的一種方法。它具有分析迅速、樣品前處理簡(jiǎn)單、可分析元素范圍廣、譜線簡(jiǎn)單，光譜干擾少，試樣形態(tài)多樣性及測(cè)定時(shí)的非破壞性等特點(diǎn)...
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真空型合金分析儀在銅合金檢測(cè)分析的應(yīng)用
真空型銅合金分析儀能量色散熒光光譜EDX9000A銅合金具有良好的導(dǎo)電性能，是工業(yè)中重要的金屬材料。近年來(lái)，全球銅價(jià)的大幅上漲進(jìn)一步增加了銅合金零件的成本。隨著科學(xué)技術(shù)的飛速發(fā)展，提高銅合金材料的性能已至關(guān)重要。在高導(dǎo)熱或高導(dǎo)熱條件下，要求提高其硬度、耐磨性和抗電弧燒蝕性。因此，表面改性是延長(zhǎng)銅合金零件使用壽命、降低成本的有效途徑。銅合金分析儀EDX9000A，又稱X射線熒光光譜儀，是一種物理的合金元素分析儀，具有快速、無(wú)損、多種元素同時(shí)分析、分析成本低等特殊技術(shù)優(yōu)勢(shì)檢測(cè)設(shè)備...
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XRF鍍層測(cè)厚儀涂層膜厚儀對(duì)涂層檢測(cè)分析的應(yīng)用
XRF鍍層測(cè)厚儀EDX-8000B涂層膜厚儀使用XRF進(jìn)行涂層測(cè)量的好處準(zhǔn)確的厚度測(cè)量有助于制造商提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品，同時(shí)控制成本。涂層的厚度應(yīng)與完成工作所需的一樣厚；制造涂層太厚的產(chǎn)品會(huì)增加制造成本。客戶還通過(guò)確保他們收到的材料涂有正確的材料和正確的厚度來(lái)測(cè)量涂層，以對(duì)進(jìn)料進(jìn)行質(zhì)量控制。使用快速、高效且無(wú)損的工具有助于在產(chǎn)品線和現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行質(zhì)量控制。一臺(tái)EDX8000測(cè)厚儀可以在短短10秒內(nèi)提供測(cè)試結(jié)果，并且可以通過(guò)單點(diǎn)校準(zhǔn)鏡頭來(lái)完善結(jié)果，只需30秒即可完成。EDX8000膜厚儀也不...
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